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扫描电迁移率粒径谱仪和法拉第杯静电计(SMPS+E)中文产品资料

GRIMM独特的FCE设计利用吹扫气保护法拉第杯的绝缘端,从而有效的避免了电杯内部被污染。其它静电计会随着使用时间增加,性能慢慢变差,原因就在于颗粒物会沉积在绝缘端上并导致漏电,从而形成微弱的背景电流
下载次数:436 浏览次数:801发布时间:2018-09-24 16:22
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文档详情

GRIMM开发的SMPS+[系统用于对0.81094纳米的粒径范围内的纳米颗粒物进行计数和粒径筛分,测量数浓度范围从100108/cm3

SMPS+E系统包括:

    ·高速响应,噪音低的法拉第杯静电计

      (FCEGRIMM 5705)

    ·高分辨率的差分电迁移率分析器(DMA)

    ·DMA控制器(5706)用于控制DMA电压

    FC[电流配置,以及整个气路系统。

GRIMM独特的FCE设计利用吹扫气保护法拉第杯的绝缘端,从而有效的避免了电杯内部被污染。其它静电计会随着使用时间增加,性能慢慢变差,原因就在于颗粒物会沉积在绝缘端上并导致漏电,从而形成微弱的背景电流值,所以其它静电计经常需要清理维护和校验。另外,这款仪器采用特殊的设计,降低了震动以及环境压力变化对测量结果的影响,因此它是为纳米颗粒物计数器(CPC)进行标定的可靠的参比标准仪器。

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