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美国CMI MPS 微量分析空气颗粒物【型号:MPS】

美国CMI MPS 微量分析空气颗粒物【型号:MPS】

  • 商品编号:美国CMI MPS 微量分析空气颗粒物【型号:MPS】
  • 货  号:美国CMI MPS 微量分析空气颗粒物【型号:MPS】
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美国CMI MPS 微量分析空气颗粒物【型号:MPS】

1.拥有专利技术的电子显微采样托盘 2、可直接将托盘放入显微分析仪器进行分析 3、采集颗粒物粒径切割点低至0.05um

多级显微分析空气颗粒物采样器专为扫描电镜SEM、能量色散X射线光谱分析EDXS和其他显微分析技术采集样品而设计的。采样器拥有嵌入撞击级的标准电子显微采样托盘(专利),采样后可将采样托盘直接插入显微镜进行分析,无需样品前处理,减少分析费用。


此外,样品收集在小的集中点,分析时很容易定位在高浓度地方。并且可选择不同类型的基片材料用于各种显微技术,如:X射线荧光分析XRF、投射电镜TEM、傅里叶变换红外光谱FTIR、气相色谱/质谱GC/MS。

应用领域

  1. 半导体、制药、航空航天等高精密制造工业污染控制
  2. 无尘室颗粒物污染分析
  3. 电脑硬盘颗粒物采样
  4. 环境空气、高层大气颗粒物分析

MPS-4G1型 4级无尘室显微颗粒物/气溶胶采样器
1.采集颗粒物粒径切割点低至0.05um
2.流速:7lpm
3. 气泵
4. 用于采集无尘室、颗粒物低浓度环境场合

MPS-3型 3级显微颗粒物/气溶胶采样器
1.流速:2slpm
2. 采集颗粒物粒径切割点低至0.05um
3. 气泵
4. 用于电脑硬盘、环境空气等颗粒物/气溶胶采样
5. 采样器袖珍便携

应用案例
1.台湾电力公司使用MPS-4G1型显微分析颗粒物/气溶胶采样器采集核电站放射性气溶胶,并将采集到的样品用扫描电镜进行分析。

<!--[if !supportLists]--> 2. <!--[endif]-->Chuan,Raymond L. and William Chiang,Cascade impactor Colects Airborne Samples for Particle Identification. Solid State Technology,July,1985

<!--[if !supportLists]--> 3. <!--[endif]-->Chiang,William and Raymond L. Chuan, “The Cascade Impactor as a Particulate Chromatograph for Microanalysis of Aerosol Particles” Aerosols:Science,Technology,and Industruial Applications of Airborne Particles,Liu,Pui,and Fissan,eds.,Elaevier Science Publishing,New York,1984,99pp

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维修流程

  • 1、技术沟通,初步判断问题电话,与客户进行初步沟通、了解并初步判断仪器所出现的故障问题。
  • 2、签订维修协议由我公司向客户发送仪器维修协议,客户需如实填写内容并回传以便我司对仪器做进一步判断。
  • 3、客户邮寄仪器客户可按照我司地址邮寄仪器,并将快递单拍照发送至您的专属客服进行备案。
  • 4、详细诊断机器故障我司收到邮寄仪器后会对邮寄的仪器进行拍照并开箱检验,对仪器做进一步故障判断。
  • 5、支付维修费用如客户仪器在保修期内,我司不收取任何维修费,如客户仪器在保修期外,我司会适当收取维修费。
  • 6、邮寄仪器给客户我司将维修好的仪器按客户地址进行拍照并邮寄,自此虽维修协议终止,但我司将提供终身免费答疑及技术指导。
专业从事仪器仪表检修12年,部分可提供服务的产品型号如下:
Testo 340 烟气分析仪 Testo350 烟气分析仪 PMS尘埃粒子计数器 TSI尘埃粒子计数器 Lighthouse尘埃粒子计数器 Metone尘埃粒子计数器
HACH尘埃粒子计数器 TSI气溶胶发生器 ATI气溶胶发生器 Palas气溶胶发生器 Topas气溶胶发生器 Palas静电中和器
Topas静电中和器 Grimm粒径谱仪 TSI粒径谱仪 Topas粒径谱仪 Palas粒径谱仪 TSI扫描电迁移率粒径谱仪
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粒子计数器校准装置 更多型号请咨询客服19mro@19mro.com

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